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时钟及数据分配 · 安森美逻辑IC产品

安森美 时钟及数据分配

时钟及数据分配

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差分及单端CMOS、ECL、PECL、CML、LVDS、HSTL、HCSL

安森美半导体提供高频单端CMOS器件,以及基于ECL设计技术、提供优异抖动及歪曲率性能的器件。提供的器件系列包括PureEdge、GigaComm、ECLinPS MAX、ECLinPS Plus、ECLinPS Lite、ECLinPS、MECL-10KH/MECL-100KH及MECL 系列。

 

计数器 – 除法器 – 预分频器

安森美半导体提供差分算术功能,如计数器、除法器及预分频器。

扇出缓冲器 – 时钟驱动器 – 信号驱动器

安森美半导体提供不同的驱动器和缓冲器。

DFF - JKFF – 锁存器 – 寄存器 – 移位寄存器

安森美半导体提供差分触发器(DFF)、锁存器、寄存器及移位寄存器。

AND门 – NAND门 - OR门 - NOR门 - XOR门 - XNOR门 - INV门

安森美半导体提供差分逻辑门,包括AND、NAND、OR、NOR、XOR、XNOR及INV门。

多工器(MUX) – 交点开关

安森美半导体提供2:1、4:1、8:1及16:1差分多工器(MUX),以及2:2和2:10差分交点开关。

串行转换器 – 并行转换器

安森美半导体提供差分并行至串行及串行至并行转换器。

可编程延迟线路

安森美半导体提供用于歪曲率管理的延迟线路。

逻辑电平转换器

安森美半导体提供差分逻辑电平转换器,可连接至ECL、PECL、CML、LVDS、HSTL、HCSL、TTL及CMOS器件。 

 

安森美半导体对器件进行一系列可靠性应力测试,测试器件涵盖了ON Semiconductor所有的产品系列。采集可靠性数据是安森美半导体可靠性审计项目的一部分, 也是我们正常产品合格性试验和重新鉴定程序的一部分。此数据定期更新, 涵盖最新的测试结果。基本上每季度更新一次。当前数据可从ON Semiconductor网站找到。

您可使用安森美的在线FIT和平均故障间隔时间(MTBF)/平均无故障时间(MTTF) 计算器或下载视窗应用程序,帮助您从安森美产品型号中搜寻可靠性数据。您也可订购该应用程序的光盘。此外ON Semiconductor也提供pdf格式的可靠性数据概要。


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