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时钟产生 · 安森美逻辑IC产品

安森美 时钟产生

时钟产生

了解更多安森美半导体(ON Semiconductor)公司关于产品更多详尽的解说及应用,请移步至安森美官方网站。

 

锁相环(PLL)时钟产生及合成

安森美半导体提供时钟驱动器、时钟模块、PLL时钟产生器、相位/频率检测器、Skew管理器、压控振荡器(VCO)及零延迟缓冲器。

 

晶体振荡器(XO)时钟模块 – 压控晶体振荡器(VCXO)时钟模块

安森美半导体提供硅晶体振荡器时代模块。

锁相环(PLL)相位检测器-锁相环(PLL)频率检测器

安森美半导体提供基于锁相环(PLL)的相位/频率检测器。

锁相环时钟合成器

安森美半导体提供锁相环(PLL)时钟产生器及合成器,产生精密的时钟信号。

扩频时钟 – EMI降低时钟

安森美半导体提供使用扩频技术来降低电磁干扰(EMI)的时钟器件。 

压控振荡器

安森美半导体提供基于锁相环(PLL)的压控振荡器(VCO)。

零延迟缓冲器(ZDB)

安森美半导体提供基于锁相环(PLL)的零延迟缓冲器(ZDB)。

 

安森美半导体对器件进行一系列可靠性应力测试,测试器件涵盖了ON Semiconductor所有的产品系列。采集可靠性数据是安森美半导体可靠性审计项目的一部分, 也是我们正常产品合格性试验和重新鉴定程序的一部分。此数据定期更新, 涵盖最新的测试结果。基本上每季度更新一次。当前数据可从ON Semiconductor网站找到。

您可使用安森美的在线FIT和平均故障间隔时间(MTBF)/平均无故障时间(MTTF) 计算器或下载视窗应用程序,帮助您从安森美产品型号中搜寻可靠性数据。您也可订购该应用程序的光盘。此外ON Semiconductor也提供pdf格式的可靠性数据概要。


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